不凝氣體檢測(cè)摘要:不凝氣體檢測(cè)是評(píng)估工業(yè)材料及產(chǎn)品中殘留非冷凝性氣體的關(guān)鍵環(huán)節(jié),,直接影響設(shè)備性能與安全性,。本文系統(tǒng)闡述檢測(cè)項(xiàng)目,、范圍、方法及設(shè)備,,涵蓋氣體種類(lèi),、材料類(lèi)型,、國(guó)際/國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范及高精度儀器選型,,為工程質(zhì)量控制提供技術(shù)參考。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。
氧氣(O?)濃度:檢測(cè)范圍0.1-1000 ppm,,精度±0.5% FS
氮?dú)猓∟?)殘留量:檢測(cè)閾值0.05%-5%(v/v),熱導(dǎo)法測(cè)定
二氧化碳(CO?)含量:量程0-10%,,紅外吸收法校準(zhǔn)
氫氣(H?)滲透率:壓力差法測(cè)試,,分辨率0.01 mL/(m2·h)
甲烷(CH?)析出量:氣相色譜分析,檢出限0.01 ppm
制冷劑類(lèi):氟利昂,、氨氣等工質(zhì)中非冷凝性雜質(zhì)
絕緣材料:環(huán)氧樹(shù)脂,、硅橡膠內(nèi)部包覆氣體
密封器件:真空繼電器,、航天級(jí)密封艙體殘留氣體
工業(yè)氣體:高純氬氣、氮?dú)庵泻哿垦醴治?/p>
電子元器件:半導(dǎo)體封裝腔體內(nèi)揮發(fā)性氣體
氣相色譜法(GC):ASTM E260,,GB/T 14605-2020
質(zhì)譜分析法(MS):ISO 6974-6,,GB/T 28726-2021
激光光譜法:ASTM F2714-08,GB/T 5832.2-2016
壓力衰減法:ISO 8573-4,,GB/T 18443.5-2010
電化學(xué)傳感法:IEC 61207-1,,GB/T 25915-2022
氣相色譜儀(GC-2010 Plus):配備TCD檢測(cè)器,支持多組分同步分析
四極桿質(zhì)譜儀(QMS 300):質(zhì)量數(shù)范圍1-300 amu,,檢測(cè)限達(dá)ppb級(jí)
紅外氣體分析儀(GPro 500):雙光束NDIR技術(shù),,支持CO?/CH?連續(xù)監(jiān)測(cè)
激光痕量氣體分析系統(tǒng)(LGA-4500):TDLAS技術(shù),響應(yīng)時(shí)間<1s
真空氦質(zhì)譜檢漏儀(ZQJ-530):最小可檢漏率5×10?13 Pa·m3/s
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測(cè)周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
中析不凝氣體檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢(xún)?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,,請(qǐng)咨詢(xún)?cè)诰€工程師
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